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测厚计 高精度橡胶测厚计
测厚计主要适用于测量橡胶、塑料等试样的厚度及均匀度。 测厚计技术参数:测程:0-10mm分度值:0.01mm工作台升降最大行程:40mm工作台外径: 70mm测头直径:6mm块规规格(厚度
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测厚计 高精度橡胶测厚计
量范围:0-10mm;分度值:0.01mm上测足直径:6±0.05mm 施加压力: 22±5Kpa所需质量:63±7g 上测足直径:6±0.05mm 施加压力: 22±5Kpa 量范围
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X射线荧光膜厚仪XTU-40
产品简介: 微聚焦加强型X射线装置:可测试各类极微小的样品,即使检测面积为0.003mm²的样品也可轻松、精准检测 变焦装置及位置补偿算法:可对各种异性凹槽进行
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COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合荧光X射线膜厚仪COSMOS-2X可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、 二层同时
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M1 ORA微区X射线荧光光谱仪
M1 ORA 是专门适用于珠宝行业的台式微区X射线荧光光谱仪(μ-XRF)。结构紧凑,占用空间小。技术参数:参数 规格光源 高性能微焦斑光管,钨靶,玻璃窗电压、功率 40 kV、40 W探测器
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数显测厚计
T0008数显测厚计,这款仪器特别用于测试制鞋材料的厚度。此款仪器压头直径为10mm,压力为1N,符合澳洲/新西兰对于制鞋皮革类材料测厚的标准要求。 应用:? 制鞋业 产品特点:? 压头压力
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M1 MISTRAL台式微区X射线荧光光谱仪
×100mm M1 MISTRAL根据所配探测器不同分为二种型号:正比计数器(PC)型和高分辨的硅漂移探测器(SDD)型参数PC型SOD型 激发源高性能微焦斑光管,W靶,玻璃窗高性能微
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EX-3000日本荧光X射线膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合产品名称:日本荧光X射线膜厚仪 EX-3000可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜
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日立 FT150系列 荧光X射线镀层膜厚测量仪
参数:基本参数:型号:FT150(标准型)FT150h(高能量型)FT150L(大型线路板对应)测量元素:原子序数13(Al)~92(U) X射线源:管电压:45 kV
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理学X射线荧光测硫仪-micro Z Sulfur
主要特点:1.以较低的功率达到测硫0.3ppm的检测下限,测氯0.22ppm的检测下限。2. 六位样品自动进样系统提高仪器使用效率,节省人员工时成本。3. X光源照射面积大,分析均匀稳定4.扣
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